葉經理：18917110077
地 址 : 上海市浦東新區東高路26弄12號
 |
在不破壞表面的狀況下，以光切法測量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度，適用于計量檢測機構、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測量范圍：12.5 ～0.2 (光潔度▽3～▽9) ●不平寬度測量范圍：0.7µm～2.5mm/或0.01µm～13mm. ●不平度測量范圍：0.8µm～80µm |
 |
在不破壞表面的狀況下，以光切法測量零件表面的微觀不平度、劃痕、刻線或缺陷的深度，適用于計量檢測機構、精密零件制造和科研等單位。 ●表面粗糙度測量范圍：12.5 ～0.2 (光潔度▽3～▽9) ●不平寬度測量范圍：0.7µm～2.5mm/或0.01µm～13mm. ●不平度測量范圍：0.8µm～80µm |
|
|
Copyright © 2007-2014 All Rights Reserved 上海黎鑫科學儀器有限公司 滬ICP備18037456號
